شماره راهنمای کنگره	TK 7874 .I3233 1994
سرشناسه	IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures.
عنوان	Proceedings of the...International Conference on Microelectronic Test Structures
شرح پدیدآور	IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
مشخصات ظاهری	v.: ill
وضعیت نشر	New York, N.Y.; Institute of Electrical and Electronics Engin; 1989-
موضوع	Integrated circuits
توضیحات	Annual
توضیحات	Vols. for 1989 sponsored by the IEEE Electron Devices Society in cooperation with the IEEE; for 1990-(1992)
توضیحات	other title: ICMTS
	به منظور رزرو کتابهای در امانت به پورتال خود مراجعه فرمایید (فیلم‌‌های آموزشی بخش امانت)
موجودی فیزیکی	محل نگهداری نسخه جلد بخش شماره ثبت بارکد سال وضعیت  مرکزی        19666  ENLB0008651    موجود