شماره راهنمای کنگره	TK 7874 .T8857 1988
عنوان	Tutorial test generation for VLSI chips
شرح پدیدآور	[edited by] Vishwani D. Agrawal and Sharad C. Seth
مشخصات ظاهری	x, 401p.: ill
وضعیت نشر	Washington, D.C.: Computer Society Press; Los Angeles, CA; Order from Computer Society; c1988
موضوع	Integrated circuits
موضوع	Automatic checkout equipment
توضیحات	"Computer Society order number 786"
توضیحات	"IEEE Catalog number EHO278-2"
توضیحات	Bibliography: p. 333-394
توضیحات	Includes index
	به منظور رزرو کتابهای در امانت به پورتال خود مراجعه فرمایید (فیلم‌‌های آموزشی بخش امانت)
موجودی فیزیکی	محل نگهداری نسخه جلد بخش شماره ثبت بارکد سال وضعیت  مرکزی        19489  ENLB0014085    موجود